Descriere:

Invenţia se referă la un procedeu de determinare a suprafeţei specifice pentru o gamă largă de materiale nanostructurate, folosind tehnica de tomografie cu electroni. Procedeul conform invenţiei implică reconstrucţii 3D ale unor serii de imagini, informaţia obţinută în urma reconstrucţiei fiind o matrice 3D de voxeli ale căror niveluri de gri sunt direct asociate cu densitatea materialului traversat de electroni, reconstrucţiile 3D fiind urmate de aplicarea unui algoritm de analiză cantitativă a rezultatelor obţinute prin reconstrucţie care este structurat ca o succesiune de funcţii pentru: citirea matricei 3D, segmentarea matricei după un prag ales şi calculul suprafeţei specifice.