Descriere:

Invenţia se referă la un procedeu pentru măsurarea emisivităţii unei suprafeţe. Procedeul conform invenţiei constă într-o primă etapă în care proba (3) ce se doreşte a fi măsurată este vopsită pe jumătate cu o vopsea având o emisivitate apropiată de 1, considerată o bună aproximare a unui corp negru, şi folosită ca referinţă, apoi proba (3) se încălzeşte uniform cu ajutorul unui încălzitor (2), la o temperatură la care se doreşte determinarea emisivităţii, încălzitorul (2) fiind controlat şi alimentat de la o sursă (5), iar temperatura de la suprafaţa probei (3) fiind măsurată cu ajutorul unui termometru (4) de contact, în timp ce un al doilea încălzitor (6) este încălzit la o temperatură T, iar cu ajutorul unei camere (1) în infraroşu se determină radiaţia (E) emisă de jumătatea vopsită a probei, şi radiaţia (E) emisă de jumătatea nevopsită a probei, care va conţine şi radiaţia (E) provenită de la încălzitor (6), reflectată de aceasta, se repetă apoi etapa anterioară pentru încălzitorul (6) încălzit la temperatura T, şi se determină radiaţia (E) emisă de zona vopsită a probei, şi radiaţia emisă (E) de zona nevopsită a probei, care va conţine şi adiaţia (E) provenită de la încălzitor (6) şi reflectată de aceasta. Pentru că cele două determinări au fost făcute în aceeaşi poziţie, se cunoaşte E/E=E(T)/E(T), iar raportul E(T)/E(T) se cunoaşte din caracterizarea prealabilă din punct de vedere radiativ a încălzitorului (6), obţinându-se astfel un sistem de ecuaţii cu ajutorul căruia se poate calcula emisivitatea probei specifice camerei (1) în infraroşu, la temperatura dată de încălzitor (2).