Descriere:

Invenţia se referă la o metodă şi la un aparat pentru măsurarea responsivităţii spectrale a detectoarelor optice de IR iradiate cu radiaţii ionizante. Metoda conform invenţiei constă în măsurarea, pe două canale, simultan, a responsivităţilor spectrale a unui detector etalon, cât şi a unui detector a cărui responsivitate spectrală urmează să fie determinată, astfel încât toate posibilele perturbaţii să influenţeze identic şi simultan cele două canale de măsură, realizându-se astfel rejecţia la mod comun a acestor semnale perturbatoare. Aparatul conform invenţiei este alcătuit dintr-un monocromator (1) prevăzut cu o apertură (2) prin care pătrunde o radiaţie (3) optică emisă în domeniul IR de nişte surse (4 şi 5) optice de IR, radiaţie care este transformată de un element (7) dispersiv şi de un chopper (8) într-o radiaţie (9) IR monocromatică, pulsată, care pătrunde într-o sferă (11) integratoare, prevăzută cu două porturi (12 şi 13) de ieşire, la care sunt cuplate: un detector de IR (14) etalon şi un detector de IR (16) a cărei responsivitate spectrală urmează să fie măsurată, temperatura de funcţionare a detectorului (16) fiind monitorizată cu ajutorul unui element (17) de măsurare a temperaturii aflat în contact termic cu detectorul (16), iar între portul (12) de ieşire şi detectorul de IR (14) etalon fiind interpusă o fereastră (15) optică, realizată din acelaşi material ca o altă fereastră optică, a detectorului de IR (16), atenuarea în atmosferă a radiaţiei (9) optice de IR fiind măsurată cu ajutorul unui sistem (22) de măsurare a atenuării atmosferice a radiaţiei de IR, iar datele provenind de la elementul (17) pentru măsurarea temperaturii, fereastra (15) optică de IR şi sistemul (22) de măsurarea a atenuării fiind furnizate unui sistem de calcul (21), care corectează responsivitatea spectrală măsurată a detectorului de IR (16) în funcţie de aceste perturbaţii.