Descriere:

Invenţia se referă la un procedeu pentru testarea componentelor, circuitelor şi echipamentelor complexe, prin determinarea efectului pe care îl are asupra caracteristicilor şi parametrilor de funcţionare, precum şi, dacă este cazul, asupra programului care controlează funcţionarea acestora, cu un flux extern de particule, care poate fi însoţit de un flux de radiaţie X sau gamma, având diferite energii şi intensităţi. Procedeul conform invenţiei constă în utilizarea unor acceleratoare laser-plasmă separate, plasate în diverse poziţii şi la diferite distanţe faţă de sistemul testat, care generează pachete de particule accelerate, simultan sau cu un anumit decalaj în timp, intensitatea instantanee a fluxurilor pulsate de particule accelerate sincronizate putând fi mult mai mare decât în cazul acceleratoarelor convenţionale, asigurând astfel posibilitatea apariţiei de defecte multiple, induse pe durate de timp de interes pentru testarea sistemelor complexe şi a programelor care le controlează funcţionarea.