Descriere:

Invenţia se referă la un sistem de analiză pentru analizarea spectroscopică, microscopică şi termografică a unui metal sau a unui aliaj metalic în domeniul UV-VIS-IR, pentru stabilirea compoziţiei chimice calitative şi cantitative a stratului superficial, a studierii segregării elementelor chimice şi a oxidării în stratul superficial, precum şi a stabilirii structurii metalografice microscopice în funcţie de temperatură. Sistemul de analiză, conform invenţiei, este constituit dintr-un microscop (1) metalografic, echipat cu un dispozitiv (2) de încălzire electrorezistivă progresivă a unei probe (3) supuse analizării, un sistem (4) de răcire a unui obiectiv (5) optic al microscopului (1), o fibră (6) optică cu trifurcaţie, un spectroscop (7) miniatural UV-VIS, prevăzut cu o reţea de difracţie, un detector Diode-Array şi program de calculator dedicat pentru analizarea spectrală calitativă şi cantitativă, ce valorifică semnalul optic de pe ramura (a) fibrei (6) din sticlă, un sistem (9) optoelectronic cu cameră CCD miniaturală, de înaltă rezoluţie, ce transformă informaţia de pe o ramură (b) a fibrei (6) optice în semnal video, un sistem (11) optoelectronic de conversie a componentei infraroşii a semnalului de pe o ramură (c) a fibrei (6) optice în unităţi de temperatură.