Descriere:

Invenţia se referă la un procedeu şi un dispozitiv pentru determinarea concomitentă a luciului şi a grosimii depunerilor galvanice. Procedeul conform invenţiei foloseşte, pentru determinarea luciului, un sistem optoelectronic de măsurare a intensităţii unei radiaţii luminoase reflectate de depunerea galvanică, atunci când aceasta se află în punctul focal al unei lentile, iar pentru măsurarea grosimii de strat, foloseşte drumul parcurs de sistem, în vederea găsirii punctului focal de reflexie maximă al lentilei. Dispozitivul conform invenţiei este realizat sub forma unei structuri de tip galvanic, ce dispune, pe lângă anod (3) şi catod (1), de două canale de măsurare: unul optoelectronic, pentru măsurarea luciului, şi unul electronic, pentru măsurarea grosimii de strat, fiind alcătuit dintr-o sursă (4) de radiaţie monocromatică de tip laser, o sondă (5) optică, destinată iradierii probei şi preluării radiaţiei reflectate de pe aceasta, sondă (5) prevăzută, la partea inferioară, cu o lentilă (6) de focalizare, o oglindă (10), un senzor (12) incremental de deplasare, precum şi o unitate (13) electronică, pentru achiziţia şi prelucrarea datelor.