Description:

Invenţia se referă la o metodă de măsurare noncontact a deplasărilor liniare şi unghiulare unidimensionale/bidimensionale, cu aplicaţii în cadrul măsurărilor metrologice şi industriale de precizie. Metoda conform invenţiei constă în utilizarea unei raze de lumină coerentă, pentru a ilumina o suprafaţă de metal a unui obiect, ceea ce va genera pe aria de suprafaţă iluminată o imagine a amprentei microstructurii metalografice a suprafeţei măsurate; imaginea generată este apoi colectată de un sistem de imagistică ce are senzor de imagine care permite captarea configuraţiilor succesive, prelevate de pe suprafaţă în cursul deplasării, iar pe baza unui algoritm de procesare a imaginilor, se cuantifică, în final, mărimea deplasării suprafeţei măsurate, rezultată din deplasarea unui grup de imagini generate în puncte succesive ale suprafeţei.