Description:

Invenţia se referă la o metodă de determinare a intensităţilor şi diferenţei de fază introduse de o probă între componentele ortogonale (P şi S) ale polarizării unui fascicul emergent din probă, polarizat eliptic sau liniar, pe o direcţie diferită de P şi S, cu aplicare în microscopie, studiul materialelor sau senzoristică. Metoda conform invenţiei constă în iluminarea probei cu fascicule care au riguros acelaşi drum optic, dar polarizări şi defazaje, faţă de un fascicul de referinţă, cu valori cunoscute, controlate, urmată de polarizarea celor două fascicule, între probă şi un detector, cu ajutorul unui polarizor care are o axă de polarizare rotită cu un unghi cunoscut faţă de polarizarea unuia dintre fascicule, şi de măsurarea intensităţilor luminii la ieşirea din polarizor, pentru fasciculele între care au fost introduse întârzieri de fază cu valori fixe, cunoscute, iar din intensităţile luminii măsurate, se calculează intensităţile componentelor ortogonale P şi S şi diferenţa de fază dintre componentele ortogonale ale polarizării unui fascicul emergent din probă.