Description:

Invenţia se referă la un procedeu şi la un echipament utilizate pentru măsurători conoscopice, în straturi subţiri anizotrope optic, straturi subţiri situate pe un substrat opac sau transparent, precum şi pentru măsurători conoscopice de performanţă îmbunătăţită, în medii groase. Procedeul conform invenţiei foloseşte reflexia fasciculului de lumină la interfaţa stratului subţire supus măsurătorii cu substratul pe care este situat. Echipamentul conform invenţiei constă, în principal, dintr-o sursă de lumină (1) care emite un fascicul (2) al cărui diametru poate fi variat cu un sistem (12) telescopic de lentile, dintr-un divizor (3) de fascicul, dintr-un polarizator (4) optic ce are şi rol de analizor al fasciculului (2) reflectat de stratul (13) subţire supus măsurătorii conoscopice, dintr-un suport (6) care conţine ansamblul (5) format din stratul (13) subţire supus măsurătorii şi substratul (14) pe care acesta este depus, suport (6) care permite reglarea temperaturii stratului (13)subţire, aplicarea unei tensiuni mecanice asupra stratului (13) subţire, în funcţie de necesităţi, aplicarea unui câmp electric şi/sau magnetic stratului (13) subţire, precum şi rotirea stratului (13) subţire.