Description:

Invenţia se referă la un aparat pentru determinarea caracteristicilor depunerilor şi proceselor galvanice, şi anume: luciul, structura microscopică şi grosimea de strat a unei depuneri galvanice, compoziţia chimică a unui electrolit dintr-o baie galvanică, precum şi productivitatea unui proces galvanic, bilanţul energetic şi bilanţul de materiale în orice moment al unei depuneri, fără a opri procesul şi fără a scoate electrozii din baie. Aparatul conform invenţiei are o structură modulară, compusă dintr-o sondă (S) portabilă, un pachet (P) de fibre optice şi o parte (E) electronică, sonda (S) fiind compusă dintr-un corp (1) superior, care conţine un buton (3) de apăsare, un senzor (4) inductiv diferenţial de deplasare, o tijă (5) cilindrică de acţionare, un arc (6) şi un element (7) de sprijin pe o depunere (8) galvanică, realizată pe un material (9) catodic, şi dintr-un corp (2) inferior, care conţine o tijă (10) cilindrică de ghidare pentru un pachet (P) de fibre optice, un arc (12) de compresie, o lentilă (11) optică, o oglindă (15) de argint şi un şurub (16) pentru reglarea acesteia, pachetul (P) de fibre optice fiind format din opt fibre optice (17) de iluminare, o fibră optică (18) centrală, divizată, prin intermediul unui divizor (19) de fibră optică, în alte trei fibre optice (20, 21 şi 22), iar partea (E) electronică fiind compusă dintr-o sursă (23) de radiaţie policromatică, prevăzută cu un filtru (24) optic, un spectrometru (25) miniatural de absorbţie, o unitate (26) de analiză microscopică şi o unitate (27) electronică centrală.